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偏振測量技術對于分析太赫茲輻射(發散、空間或頻率模式和剖面)非常重要。偏振測量的關鍵儀器是偏振調制器,它可以識別和測量偏振信號。

由雙折射材料制成的平平板用于改變輻射的偏振態。波片通過移動波的兩個垂直偏振分量之間的相位來工作。最常見的波片類型是半波片(λ/2 片)和四分之一波片(λ/4 片)。λ/2 板給出相位延遲 π 和 λ/4 板 — π/2。半波片改變線偏振光的偏振方向。四分之一波片將線偏振光變為圓形,反之亦然。如果偏振方向沿波片軸之一,波片不會改變線偏振光束的偏振。


半波片工作原理

wp1.png

四分之一波片工作原理

wp2.png


Tydex為單一工作波長 提供太赫茲波片:

常用規格:

延遲類型,λ?, ?
工作波長范圍,μm40-1000
材料太赫茲級水晶石英
方向X 切
方位公差,圓弧。分鐘。± 10
標準尺寸,毫米20×20、50×50
最大尺寸,毫米60×60
尺寸公差,mm± 0.25
厚度公差,μm±5.0
通光孔徑,%≥90
平行度,弧度。分鐘。5
表面質量,scr/dig60/40
TWD, λ@633nm?




由幾個特殊定向的半波片組成的分段波片允許從線性偏振的輻射獲得徑向和方位角偏振的輻射。這種波片的工作原理如下所示。

wp_thz_3_segmented_waveplates.jpg

分段波片的工作原理:

wp_thz_4_segmented_waveplates_scheme.gif

wp_thz_5_segmented_waveplate_op.gif



通過將分段波片旋轉 45 度,可以將徑向偏振變為方位角偏振。通過將波片旋轉 90 度,徑向偏振方向變為相反的方向。分段波片與正透鏡的組合使輻射沿其傳播方向偏振。

分段波片可根據要求制造。